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    日本advanced 厚度/膜厚/光學常數測量裝置

    日本advanced 厚度/膜厚/光學常數測量裝置ETA-TCM
    這是一種測量納米級薄膜厚度的裝置。其特點是快速、非接觸、能夠高精度地進行大面積測量。

    • 產品型號:ETA-TCM
    • 廠商性質:經銷商
    • 更新時間:2024-08-13
    • 訪  問  量:312
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    產品詳情
    品牌其他品牌類型薄膜
    測量范圍大面積產地進口

    日本advanced 厚度/膜厚/光學常數測量裝置ETA-TCM

    這是一種測量納米級薄膜厚度的裝置。其特點是快速、非接觸、能夠高精度地進行大面積測量。

    特長:

    反射/透射光譜測量

    測量基材上單層薄膜的 n/k(光學常數)

    基材上堆疊的每層薄膜的膜厚(最多3層)

    各膜層光學模型及參數可調

    受光部波長帶(320nm~1700nm)

    配備自動校準功能

    支持高速測量、卷對卷、在線測量

    應用:

    1.電子產品

    顯示/照明/半導體/OLED等

    實例:AR/防指紋膜/防污膜/阻隔膜/硬涂層/絕緣/TFT等。

    2.汽車

    醫療器械/藥品/細胞/小瓶等

    實例:AR/防指紋膜/防污膜/阻隔膜/硬涂層/隔膜等。

    3.生物醫學

    顯示/照明/半導體/OLED等

    實例:SiO2涂層/薄膜等。

    4.其他的

    太陽能電池/鋰電池/鏡頭/飲料容器/光盤等

    實例:阻隔膜/硬涂層/SiO2涂層/聚碳酸酯/隔膜等。

    日本advanced 厚度/膜厚/光學常數測量裝置ETA-TCM

    這是一種測量納米級薄膜厚度的裝置。其特點是快速、非接觸、能夠高精度地進行大面積測量。

    特長:

    反射/透射光譜測量

    測量基材上單層薄膜的 n/k(光學常數)

    基材上堆疊的每層薄膜的膜厚(最多3層)

    各膜層光學模型及參數可調

    受光部波長帶(320nm~1700nm)

    配備自動校準功能

    支持高速測量、卷對卷、在線測量

    應用:

    1.電子產品

    顯示/照明/半導體/OLED等

    實例:AR/防指紋膜/防污膜/阻隔膜/硬涂層/絕緣/TFT等。

    2.汽車

    醫療器械/藥品/細胞/小瓶等

    實例:AR/防指紋膜/防污膜/阻隔膜/硬涂層/隔膜等。

    3.生物醫學

    顯示/照明/半導體/OLED等

    實例:SiO2涂層/薄膜等。

    4.其他的

    太陽能電池/鋰電池/鏡頭/飲料容器/光盤等

    實例:阻隔膜/硬涂層/SiO2涂層/聚碳酸酯/隔膜等。

    日本advanced 厚度/膜厚/光學常數測量裝置




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